원자력硏 이정수 박사팀

국내 연구진이 고분자와 나노복합소자, 자기기억소자 등 다양한 분야의 박막(薄膜) 시료 표면구조 특성을 나노 단위까지 분석할 수 있는 ‘중성자 반사율 측정장치(Neutron Reflectometer)’ 기술을 개발했다. 한국원자력연구소 ‘하나로(HANARO)’ 이용기술 개발부 이정수 박사팀은 25일 중성자의 광학적 특성을 활용해 미세 박막의 특성을 측정하는 중성자 반사율 측정장치를 개발했다고 밝혔다.

중성자 반사율 측정장치는 1990년대 중반에 개념이 정립된 첨단기술로 미국과 영국, 프랑스, 일본 등 5∼6개 선진국들이 보유하고 있다.

연구팀은 기존의 비파괴 검사방식과 달리 중성자의 입자적 특성을 활용, 향후 나노기술(NT)과 생명공학(BT), 정보기술(IT) 등의 재료연구에 폭넓게 활용될 것이라고 기대했다.

이 박사는 “이번 측정장치는 에너지가 매우 낮은 중성자를 이용해 측정 시료에 손상을 주지 않는 만큼 반복적인 시료이용이 가능하다.”면서 “중성자가 투과력이 높고 그 자체가 하나의 자석이어서 분자 박막, 금속 박막, 유전체 박막, 자성 박막, 자성 반도체 박막 및 초전도체 박막 등 다양한 연구개발에 활용이 가능하다.”고 설명했다.

이영표기자 tomcat@seoul.co.kr