◎10억분의 1m이하 길이 잰다

한국표준과학연구원 엄천일박사팀은 29일 초정밀 측정용 X선 간섭계를 개발했다고 발표했다.

엑스선 간섭계는 실리콘 단결정으로부터 일어나는 연속적인 회절현상의 결가로 엑스선 간섭신호를 얻도록 고안된 장치이다.가시광선 영역의 간섭계는 여러분야에서 널리 쓰이고 있지만 이러한 간섭계를 엑스선과 같이 짧은 파장 영역에서 구현하는데는 여러가지 어려움이 따르고 있다.이는 엑스선의 굴절률이 1보다 작기 때문에 엑스선용 렌즈를 제작할 수 없을 뿐만 아니라 옹스트롬(1백억분의 1m)영역의 위치변화를 제어하려면 아주 높은 시스템의 안정도가 요구되기 때문이다.엄박사팀은 이같은 문제점 해결을 위해 고순도의 실리콘 단결정으로부터 회절을 이용해 엑스선의 경로를 변경시키고 또 간섭계를 구서러부분들을 한 몸체의 실리콘 결정으로 제작함으로써 상대적인 위치변화를 최소화 하는데 성공했다.

엑스선 간섭계는 나노미터(10억분의 1m) 또는 그 이하 영역의 길이를 측정하는데 중요한 기기로 인정받아 선진각국에서 연구가활발하다.엄박사팀은 이번 간섭계 개발을 통해 약 2옹스트롬의 주기를 갖는 엑스선 간섭신호를 검출,향후 초정밀 측정 능력보유에 크게 기여할 수 있게 됐다.