국립암센터 박재갑(朴在甲) 원장이 세계 최초로 유전성 갑상선암의 원인유전자를 검사하는 칩을 개발하는 데 성공했다.

10일 국립암센터에 따르면 박 원장은 서울대 암연구소 김일진 연구원과 함께 유전성 암의 일종인 ‘다발성 내분비종양증후군 2형’(유전성 갑상선암)의 원인유전자를 검사하는 DNA 마이크로칩을 개발,세계적 암 전문 학술지 ‘클리니컬 캔서 리서치’ 2월호에 발표했다.

이 칩에는 모두 67개 타입,268개의 뉴클레오티드가 부착돼있어 다발성 내분비 종양증후군 2형을 일으키는 RET 원인유전자의 돌연변이 여부를 9시간 안에 97.4%의 정확도로 검사할 수 있다.다발성 내분비 종양증후군 2형에는 갑상선 수질암,부갑상선 기능항진증,부신갈색종 등이 있으며 연간 신규 환자수가 국내 50명,전세계 5000명 정도로 추정되는 희귀암이다.

박 원장은 “기존의 검사 장비는 고가인 데다 시간도 최장1개월 걸리지만 이 칩은 일반병원이나 연구소에서 저렴한비용으로 쉽게 사용할 수 있다.”면서 “이 칩을 이용해 영유아 때 유전성 암을 조기 검진,갑상선절제 등의 예방적수술을 할 수 있다.”고 말했다.

김용수기자 dragon@