내년부터 학생비자나 관광비자로 미국에 입국하는 외국 방문객들은 스캔을 통해 지문과 안면을 확인하는 입국 심사과정을 적용받을 것이라고 뉴욕타임스가 24일 보도했다.신문은 미국 이민 당국이 외국인 방문객들의 입국 상황을 파악하기 위해 ‘VISIT’시스템을 적용,매년 약 1000만명의 외국인 입국자들에게 이 시스템을 적용할 것이라고 밝혔다.